Utilize este identificador para referenciar este registo: http://hdl.handle.net/10400.9/782
Título: Optical metrology for nanotechnology
Autor: Coelho, João M. P.
Rebordão, José Manuel
Data: 31-Jan-2008
Citação: Coelho, J.M.P.; Rebordão, J.M. Optical metrology for nanotechnology. In: 2nd Workshop on Low-Dimensional Structures: Properties and Applications, WLDS2008, Aveiro, 31 Jan. - 1 Fev., 2008
URI: http://hdl.handle.net/10400.9/782
Aparece nas colecções:INETI - Resumos publicados em Livros de Actas

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